光電測(cè)試系統(tǒng)的正確打開(kāi)方式

　　光電測(cè)試系統(tǒng)以掃描電子顯微鏡為基礎(chǔ)，集成陰極熒光譜、微納機(jī)械臂、外部電學(xué)測(cè)量等功能，構(gòu)建了一個(gè)直觀、實(shí)時(shí)和原位地研究先進(jìn)功能材料和器件物理性能的系統(tǒng)，不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)納米材料或器件的原位發(fā)光的檢測(cè)和電學(xué)物性的測(cè)試、納米尺度的操作和控制、以及特定納米光電子器件的構(gòu)筑，還可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)原位研究微納器件材料光電轉(zhuǎn)換過(guò)程的動(dòng)態(tài)信息。

　　本產(chǎn)品可用于新型太陽(yáng)能電池，如鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、有機(jī)材料太陽(yáng)能電池的光電性能測(cè)試，用來(lái)表征電池的光電轉(zhuǎn)換性能。主要用于新型太陽(yáng)能電池的科學(xué)研究項(xiàng)目。

　　光電測(cè)試系統(tǒng)按照太陽(yáng)光標(biāo)準(zhǔn)光譜制造，可以模擬AM1.5和AM1.5G兩種情況下的太陽(yáng)光。用于開(kāi)展太陽(yáng)能電池方面的研究工作，可以準(zhǔn)確的測(cè)量出太陽(yáng)能電池的光電轉(zhuǎn)化效率。

　　對(duì)有效擴(kuò)散系數(shù)的計(jì)算和電子壽命的“自動(dòng)”數(shù)據(jù)分析的“一鍵式”操作，適合于對(duì)頻域測(cè)試技術(shù)比較陌生的使用者。軟件包含全套電化學(xué)測(cè)試技術(shù)，包括：循環(huán)伏安(C-V)，恒電壓-電流測(cè)試，系列的阻抗測(cè)試方法以及交流伏安法。

　　該測(cè)試系統(tǒng)是一套可表征染料敏化電池的整體集成式光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。而且該體系可用于可見(jiàn)光譜-光電化學(xué)領(lǐng)域的研究，例如，氧化鐵催化光解水等。輔助分壓功能可用于同時(shí)檢測(cè)陽(yáng)極和陰極的阻抗和電壓；

　　光電測(cè)試系統(tǒng)可應(yīng)用于各種光電化學(xué)反應(yīng)的研究，如研究光激發(fā)分子或離子在激發(fā)態(tài)時(shí)的氧化還原反應(yīng)現(xiàn)象、規(guī)律及應(yīng)用；研究光直接影響電極過(guò)程的電化學(xué)、光能與電能和化學(xué)能的轉(zhuǎn)換測(cè)量；光電化學(xué)電池的光電轉(zhuǎn)化測(cè)量；光電化學(xué)合成和富集等。

更新更新時(shí)間：2024-03-22

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